- 硅料與硅片品質(zhì)提升解決方案
- 單晶與多晶硅整體檢測(cè)方案介紹
- 黑心片黑邊片解決方案
- 硅片碎片率高解決方案
- 少子壽命不準(zhǔn)確解決方案
- 氧碳含量超標(biāo)解決方案
- 硅塊硬質(zhì)點(diǎn)漏檢解決方案
- 單晶棒電阻率虛高解決方案
- 電池片與組件品質(zhì)提升解決方案
- 太陽(yáng)能電站品質(zhì)提升解決方案
- 太陽(yáng)能電站整體檢測(cè)方案介紹
- 復(fù)雜線(xiàn)路電流檢測(cè)解決方案
- 接地電阻準(zhǔn)確性不高解決方案
- 電能質(zhì)量不穩(wěn)定解決方案
- 溫度快速精確檢測(cè)解決方案
- 藍(lán)寶石和碳化硅品質(zhì)提升解決方案
- 藍(lán)寶石和碳化硅整體檢測(cè)方案介紹
- 品質(zhì)定級(jí)解決方案
- 位錯(cuò)腐蝕檢測(cè)解決方案
- 精確定向解決方案
- 平整度精確檢測(cè)解決方案
- 厚度與電阻率便捷檢測(cè)解決方案
- 表面油污解決方案
- 碳化硅微管便攜檢測(cè)解決方案
- 耗材輔料品質(zhì)提升解決方案
- Newsletter
解決方案 >> 藍(lán)寶石和碳化硅品質(zhì)提升解決方案
-
晶體表面油污檢測(cè)及處理方案
晶片表面有油污，很難以檢測(cè)到，即便用KLA也難以判斷，這主要是有檢測(cè)原理決定的。有污染的晶片若被應(yīng)用的外延，就會(huì)嚴(yán)重影響到LED的品質(zhì)，使成品率下降。所以，如果要排除污染，就必須有一個(gè)專(zhuān)業(yè)的設(shè)備進(jìn)行探測(cè)與判斷。
-
平整度檢測(cè)方案
平整度是晶片很重要的參數(shù)，直接決定了片子合格與否，檢測(cè)平整度的方法很多，但目前看來(lái)國(guó)際還是依托于SEMI標(biāo)準(zhǔn)。參數(shù)的定義，檢測(cè)的精度都是需要認(rèn)真考慮的。
-
藍(lán)寶石與碳化硅腐蝕方案
腐蝕工藝直接決定了檢測(cè)位錯(cuò)的結(jié)果，關(guān)鍵的一點(diǎn)可能會(huì)讓您少走很多的彎路，敬請(qǐng)關(guān)注。
-
藍(lán)寶石光學(xué)等級(jí)評(píng)估
光學(xué)晶體等級(jí)一般分六級(jí)，如何進(jìn)行評(píng)估，怎么評(píng)估？這不光需要專(zhuān)業(yè)的檢測(cè)設(shè)備，還有就是一線(xiàn)檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)。
-
碳化硅工藝流程及檢測(cè)方案
碳化硅工藝流程及檢測(cè)方案
-
藍(lán)寶石整體檢測(cè)方案
工藝流程及涉及的檢測(cè)設(shè)備
共 6 條 1/1頁(yè) [首頁(yè)] [上頁(yè)] [下頁(yè)] [末頁(yè)]
版權(quán)所有：2008-2050合能陽(yáng)光 京ICP備18015141號(hào)-1