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                　我們的使命是創(chuàng)新無接觸測試技術和方法，設計生產(chǎn)銷售高質(zhì)量的獨特的測試系統(tǒng)，以不斷提升半導體行業(yè)和太陽能行業(yè)的質(zhì)量與效率，堅持不渝地為用戶生產(chǎn)力提升提供有力支持。












 
　　在線PL模塊，每小時3600片的測試速度，缺陷百分比和雜質(zhì)百分比分析、電池片轉(zhuǎn)換效率預測，無縫對接
分選系統(tǒng)。



 

　　全工藝檢測，經(jīng)過準確分析，滾輪的damage影響到之后所有的環(huán)節(jié)，并最終影響到cell效率。



 
　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　隱裂檢測



 

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　雜質(zhì)污染


 

 

　　　　　　　　　　　　準確對類單晶片進行檢測，圖中樣品無異常






　　PL-03 dark edge+defect area = 36.6% of the surface，PL-53 dark edge+defect area = 17% of the surface雜質(zhì)
和位錯密度很高的邊緣，嚴重減低的發(fā)電效率。


 




 

　　　黑心片檢測，檢測速度可達5000片/小時。




 

　　電池裂紋檢測功能，能無接觸且快速的識別電池片裂紋、針孔、晶界檢測的差異。



 
?

　　　　　　　　　　　　　電池片轉(zhuǎn)換效率預測和實際效率對比情況

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